Fundamentals of atomic force microscopy/

Main Author: Reifenberger, Ronald G.
Format: Book
Language:English
Published: New Jersey : World Scientific, c2016-
Series:Lessons from nanoscience: a lecture note series ; v. 4
Subjects:
LEADER 00883nam a2200217 a 4500
001 2039191
005 20171112000037.0
008 161124m20169999enka b 001 0 eng c
020 |a 9789814630351  |q τ. 1 
040 |a GR-KoDPT  |b gre  |e AACR2 
050 4 |a QH212.A78  |b P45 2016  
100 1 4 |a Reifenberger, Ronald G. 
245 1 0 |a Fundamentals of atomic force microscopy/  |c Ronald Reifenberger. 
260 1 0 |a New Jersey :  |b  World Scientific,  |c c2016- 
300 1 0 |a τ. :  |b εικ. ;  |c 24 εκ. 
490 0 0 |a Lessons from nanoscience: a lecture note series ;  |v v. 4 
504 0 0 |a Περιλαμβάνει βιβλιογραφικές παραπομπές και ευρετήριο. 
505 1 0 |a τ. 1. Foundations 
650 1 0 |a Atomic force microscopy. 
952 |a GRThAnMak  |b 59cca38c6c5ad1344602bd0e  |c 998a  |d 945l  |x m  |z Books 
952 |a GR-KoDPT  |b 59cc37286c5ad13446fb5864  |c 998a  |d 945l  |e TK1005  |t 1  |x m  |z Books