Fundamentals of atomic force microscopy/

Main Author: Reifenberger, Ronald G.
Format: Book
Language:English
Published: New Jersey : World Scientific, c2016-
Series:Lessons from nanoscience: a lecture note series ; v. 4
Subjects:
Physical Description:τ. : εικ. ; 24 εκ.
Bibliography:Περιλαμβάνει βιβλιογραφικές παραπομπές και ευρετήριο.
ISBN:9789814630351