Atomic force microscopy/scanning tunneling microscopy 3

Corporate Authors: ebrary, Inc., Symposium on Atomic Force/Scanning Tunneling Microscopy
Other Authors: Cohen, Samuel H.
Format: Book
Language:English
Published: New York : Kluwer Academic/Plenum Publishers, c1999.
Subjects:
Online Access:http://site.ebrary.com/lib/ucy/Doc?id=10047028

Internet

http://site.ebrary.com/lib/ucy/Doc?id=10047028
ΒιβλιοθήκηΤαξιθετικός αριθμόςΑριθμός ΑντιτύπωνΠληροφορίεςΚατάσταση
Πανεπιστήμιο Κύπρου - Ανοιχτό Πανεπιστήμιο Κύπρου-1ΠροβολήOPAC