Atomic force microscopy/scanning tunneling microscopy/
| Corporate Author: | |
|---|---|
| Other Authors: | , , |
| Format: | Book |
| Language: | English |
| Published: |
New York:
Plenum Press,
c 1994
|
| Subjects: |
| Βιβλιοθήκη | Ταξιθετικός αριθμός | Αριθμός Αντιτύπων | Πληροφορίες | Κατάσταση |
|---|---|---|---|---|
| Εθνικό και Καποδιστριακό Πανεπιστήμιο Αθηνών | 502.82 CohS a 1994 | 1 | Προβολή | OPAC |