Fundamentals of atomic force microscopy/

Main Author: Reifenberger, Ronald G.
Format: Book
Language:English
Published: New Jersey : World Scientific, c2016-
Series:Lessons from nanoscience: a lecture note series ; v. 4
Subjects:
ΒιβλιοθήκηΤαξιθετικός αριθμόςΑριθμός ΑντιτύπωνΠληροφορίεςΚατάσταση
ΤΕΙ Ανατολικής Μακεδονίας & ΘράκηςΠροβολήOPAC
Δημοκρίτειο Πανεπιστήμιο ΘράκηςTK10051ΠροβολήOPAC