Semiconductor measurements and instrumentation /

Main Author: Runyan, W. R.
Other Authors: Shaffner, T. J.
Format: Book
Language:English
Published: New York : McGraw-Hill, c1998.
Edition:2nd ed.
Subjects:
Physical Description:x, 453 σ. : εικ. ; 24 εκ.
Bibliography:Περιλαμβάνει βιβλιογραφικές παραπομπές και ευρετήριο
Περιέχει βιβλιογραφικές αναφορές και ευρετήριο
Includes bibliographical references and index.
Includes bibliographical references nad index.
ISBN:0070576971