Semiconductor measurements and instrumentation/
| Main Author: | |
|---|---|
| Corporate Author: | |
| Format: | Book |
| Language: | English |
| Published: |
New York:
McGraw-Hill,
c1975
|
| Series: | Texas Instruments electronics series
|
| Subjects: |
| Βιβλιοθήκη | Ταξιθετικός αριθμός | Αριθμός Αντιτύπων | Πληροφορίες | Κατάσταση |
|---|---|---|---|---|
| Δημοκρίτειο Πανεπιστήμιο Θράκης | QC 611 .24 | 2 | Προβολή | OPAC |
| ΤΕΙ Κρήτης | QC611.24 .R86 | 1 | Προβολή | OPAC |