Semiconductor measurements and instrumentation /
| Main Author: | |
|---|---|
| Other Authors: | |
| Format: | Book |
| Language: | English |
| Published: |
New York :
McGraw-Hill,
c1998.
|
| Edition: | 2nd ed. |
| Subjects: |
| Βιβλιοθήκη | Ταξιθετικός αριθμός | Αριθμός Αντιτύπων | Πληροφορίες | Κατάσταση |
|---|---|---|---|---|
| Εθνικό Μετσόβιο Πολυτεχνείο | 621.38152 RUN | 2 | Προβολή | OPAC |
| ΤΕΙ Ανατολικής Μακεδονίας & Θράκης | 621.3815 RUN | 1 | Προβολή | OPAC |