In situ real-time characterization of thin films/
| Other Authors: | , |
|---|---|
| Format: | Book |
| Language: | English |
| Published: |
New York, NY Chichester:
J. Wiley & Sons,
c2001
|
| Subjects: |
| Item Description: | "A Wiley-Interscience publication." |
|---|---|
| Physical Description: | xi, 263 σ. : εικ., πίν. ; 24 εκ. |
| Bibliography: | Περιέχει βιβλιογραφικές παραπομπές και ευρετήριο |
| ISBN: | 0471241415 |