Holdings: In situ real-time characterization of thin films/

Other Authors:	Auciello, Orlando,, Krauss, Alan Robert
Format:	Book
Language:	English
Published:	New York, NY Chichester: J. Wiley & Sons, c2001
Subjects:	Λεπτά υμένια Thin films

Βιβλιοθήκη	Ταξιθετικός αριθμός	Αριθμός Αντιτύπων	Πληροφορίες	Κατάσταση
Χαροκόπειο Πανεπιστήμιο	530.4275 INS	1	Προβολή	OPAC