Holdings: Fundamentals of surface and thin film analysis/

Main Author:	Feldman, Leonard C.
Other Authors:	Mayer, James W.,
Format:	Book
Language:	English
Published:	New Jersey: Prentice Hall, c1986
Subjects:	Τεχνολογία Επιφάνειες (Τεχνολογία) > Ανάλυση Λεπτά υμένια > Ανάλυση Technology Surfaces (Technology) > Analysis Thin films > Analysis

Βιβλιοθήκη	Ταξιθετικός αριθμός	Αριθμός Αντιτύπων	Πληροφορίες	Κατάσταση
Χαροκόπειο Πανεπιστήμιο	530.41 FEL	1	Προβολή	OPAC