Testing semiconductor memories :theory and practice /

Main Author: Goor, A. J. van de.
Format: Book
Language:English
Published: Chichester ; J. Wiley & Sons , 1991 .
New York :
Subjects:
ΒιβλιοθήκηΤαξιθετικός αριθμόςΑριθμός ΑντιτύπωνΠληροφορίεςΚατάσταση
ΤΕΙ Αθήνας-1ΠροβολήOPAC