Semiconductor memories : technology, testing, and reliability /

Main Author: Sharma, Ashok K.
Corporate Authors: Institute of Electrical and Electronics Engineers, IEEE Solid-State Circuits Council
Format: Book
Language:English
Published: Piscataway, N.J.: IEEE Press, c1997
Subjects:
ΒιβλιοθήκηΤαξιθετικός αριθμόςΑριθμός ΑντιτύπωνΠληροφορίεςΚατάσταση
Δημοκρίτειο Πανεπιστήμιο ΘράκηςTK 78951ΠροβολήOPAC