Patterning of material layers in submicron region/

Main Author: Tandon, U. S., 1952-
Corporate Author: Wiley
Other Authors: Khokle, W. S.
Format: Book
Language:English
Published: New York: J. Wiley, 1993
Subjects:
LEADER 00927nam a2200253 a 4500
001 705182
005 20171111231045.0
008 991011s1993 gr r 000 0 eng d
020 |a 0470220635  |q J. Wiley 
020 |a 8122405614  |q Wiley Eastern 
040 |a GR-KoDPT  |b gre  |e AACR2 
050 |a TK7872.M3  |b P38 1993 
082 0 |2 20  |a 621.3815/31 
100 1 |a Tandon, U. S.,  |d 1952- 
245 1 0 |a Patterning of material layers in submicron region/  |c U.S. Tandon, W.S. Khokle 
260 |a New York:  |b J. Wiley,  |c 1993 
300 |a xii, 183 σ. :  |b εικ. (μερ. έγχρ.) ;  |c 25 εκ. 
504 |a Περιέχει βιβλιογραφικές παραπομπές και ευρετήριο 
650 0 |a Integrated circuits  |x Masks 
650 0 |a Ion beam lithography 
650 0 |a Lithography, Electron beam 
700 1 |a Khokle, W. S. 
710 |a Wiley 
952 |a GR-KoDPT  |b 59cc211d6c5ad13446f89c3c  |c 998a  |d 945l  |e TK 7872  |t 1  |x m  |z Books