Επίδραση των χαρακτηριστικών βάθους (Gates) στην ποιότητα εέγχου με την C-Scan μη καταστροφική υπερηχητική μέθοδο /
Main Author: | Κατσουρίδης, Αθανάσιος |
---|---|
Corporate Authors: | Εθνικό Μετσόβιο Πολυτεχνείο. Σχολή Μηχανολόγων Μηχανικών, Εθνικό Μετσόβιο Πολυτεχνείο. Σχολή Εφαρμοσμένων Μαθηματικών και Φυσικών Επιστημών., Τομέας Μηχανικής |
Format: | Book |
Similar Items
-
Έλεγχος μεταλλικών συγκολλήσεων με τη μη καταστροφική μέθοδο των υπερήχων /
by: Μητρόπουλος, Ιωάννης -
Εκ βάθους Ποίηση
by: Πετροπουλέα, Ζωή Ε.
Published: (1995) -
Scanning : the professional way /
by: Ihrig, Sybil
Published: (1995) -
Συσκευασία τροφίμων - επίδραση χαρακτηριστικών διαπερατότητας στη διατηρησιμότητα /
by: Μπουρνάκης, Αθανάσιος -
Ἐκ βάθους ἀναδυομένη [ποιήματα]
by: Παπαθεοδώρου, Χρυσαυγή
Published: (2014)