Holdings: Επίδραση των χαρακτηριστικών βάθους (Gates) στην ποιότητα εέγχου με την C-Scan μη καταστροφική υπερηχητική μέθοδο /

Main Author:	Κατσουρίδης, Αθανάσιος
Corporate Authors:	Εθνικό Μετσόβιο Πολυτεχνείο. Σχολή Μηχανολόγων Μηχανικών, Εθνικό Μετσόβιο Πολυτεχνείο. Σχολή Εφαρμοσμένων Μαθηματικών και Φυσικών Επιστημών., Τομέας Μηχανικής
Format:	Book

Βιβλιοθήκη	Ταξιθετικός αριθμός	Αριθμός Αντιτύπων	Πληροφορίες	Κατάσταση
Εθνικό Μετσόβιο Πολυτεχνείο	-	1	Προβολή	OPAC