Semiconductor strain metrology principles and applications /
| Main Author: | |
|---|---|
| Corporate Author: | |
| Format: | Book |
| Language: | English |
| Published: |
[Saif Zone, Sharjah, U.A.E] ; Oak Park, IL :
Bentham Science,
[2012]
|
| Subjects: | |
| Online Access: | http://site.ebrary.com/lib/ucy/Doc?id=10570978 |
Internet
http://site.ebrary.com/lib/ucy/Doc?id=10570978| Βιβλιοθήκη | Ταξιθετικός αριθμός | Αριθμός Αντιτύπων | Πληροφορίες | Κατάσταση |
|---|---|---|---|---|
| Πανεπιστήμιο Κύπρου - Ανοιχτό Πανεπιστήμιο Κύπρου | - | 1 | Προβολή | OPAC |