Path delay fault testing for digital VLSI circuits using specialized binary decision diagrams/
| Main Author: | |
|---|---|
| Format: | Book |
| Language: | English |
| Published: |
Nicosia:
[s. n.],
2012
|
| Subjects: |
| Βιβλιοθήκη | Ταξιθετικός αριθμός | Αριθμός Αντιτύπων | Πληροφορίες | Κατάσταση |
|---|---|---|---|---|
| Πανεπιστήμιο Κύπρου - Ανοιχτό Πανεπιστήμιο Κύπρου | TK7874.75.H75 2012 | 1 | Προβολή | OPAC |