Design for at-speed test, diagnosis, and measurement/

Other Authors: Nadeau-Dostie, Benoit
Format: Book
Language:English
Published: Boston ; Dordrecht: Kluwer Academic Publidhers, c2000
Series:Frontiers in electronic testing
Subjects:
ΒιβλιοθήκηΤαξιθετικός αριθμόςΑριθμός ΑντιτύπωνΠληροφορίεςΚατάσταση
Πανεπιστήμιο Κύπρου - Ανοιχτό Πανεπιστήμιο ΚύπρουTK7874.D47497 20001ΠροβολήOPAC