Advances in X-ray diffractometry and X-ray spectrography : a volume of fifteen selected reprints from Philips Laboratories, Irvington-on-Hudson, New York, U.S.A. /
| Other Authors: | |
|---|---|
| Format: | Book |
| Language: | English |
| Published: |
Eindhoven:
Centrex Pubishing Company,
1962
|
| Subjects: |
| Βιβλιοθήκη | Ταξιθετικός αριθμός | Αριθμός Αντιτύπων | Πληροφορίες | Κατάσταση |
|---|---|---|---|---|
| Εθνικό και Καποδιστριακό Πανεπιστήμιο Αθηνών | 537.5352 ParW a 1962 | 1 | Προβολή | OPAC |