Optical methods of measurement : wholefield techniques /

Main Author: Sirohi, R. S.
Other Authors: Chau, F. S.
Format: Book
Language:English
Published: New York : Marcel Dekker, 1999.
Series:Optical engineering ; v. 65
Subjects:
ΒιβλιοθήκηΤαξιθετικός αριθμόςΑριθμός ΑντιτύπωνΠληροφορίεςΚατάσταση
ΤΕΙ ΚρήτηςQC367 .S57 19992ΠροβολήOPAC