Structural and chemical analysis of materials :X-ray, electron and neutron diffraction ;X-ray, electron and ion spectrometry ;electron microscopy /

Main Author: Eberhart, J. P.
Format: Book
Language:English
Published: Chichester, West Sussex, England ; Wiley , c1991 .
New York :
Subjects:
ΒιβλιοθήκηΤαξιθετικός αριθμόςΑριθμός ΑντιτύπωνΠληροφορίεςΚατάσταση
ΤΕΙ Αθήνας-1ΠροβολήOPAC