Holdings: Physical aspects of electron microscopy and microbeam analysis/

Corporate Authors:	Wiley, Electron Microscopy Society of America, Microbeam Analysis Society
Other Authors:	Siegel, Benjamin M., Beaman, Donald Robert
Format:	Book
Language:	English
Published:	New York: Wiley, c1975
Subjects:	Microprobe analysis Microchemistry Electron microscopy

Βιβλιοθήκη	Ταξιθετικός αριθμός	Αριθμός Αντιτύπων	Πληροφορίες	Κατάσταση
Δημοκρίτειο Πανεπιστήμιο Θράκης	QH 324 .9	1	Προβολή	OPAC