Methods and models for predicting fatigue crack growth under random loading /

Other Authors: Chang, J. B., Hudson, C. M.
Format: Book
Published: Philadelphia, Pa.: American Society for Testing and Materials, c1981
Series:ASTM STP ; 748
Subjects:
ΒιβλιοθήκηΤαξιθετικός αριθμόςΑριθμός ΑντιτύπωνΠληροφορίεςΚατάσταση
Εθνικό Μετσόβιο Πολυτεχνείο620.1126 MET1ΠροβολήOPAC