Grundlagen Tiefenwahrenhmung im Mikroskop : uber die Bestimmung der obersten Grenze des unvermeidlichen Fehlers einer Messung aus der Haufigkeitsverteilung der zufalligen Maximalfehler /
Main Author: | Berek, M. |
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Format: | Book |
Language: | German |
Published: |
Berlin:
Otto Elsner,
1927
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Subjects: |
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