Probability, statistics and reliability for engineers and scientists/

Main Author: Ayyub, Bilal M.
Corporate Author: Chapman and Hall/CRC
Other Authors: McCuen, Richard H.
Format: Book
Language:English
Published: Boca Raton; London: Chapman and Hall/CRC, c2003
Edition:2η έκδ.
Subjects:
ΒιβλιοθήκηΤαξιθετικός αριθμόςΑριθμός ΑντιτύπωνΠληροφορίεςΚατάσταση
Εθνικό Μετσόβιο Πολυτεχνείο519.5 AYY1ΠροβολήOPAC
Ελληνικό Ανοικτό Πανεπιστήμιο519.502462 AYY2ΠροβολήOPAC