Applied risk analysis : moving beyond uncertainty in bussiness /

Main Author: Mun, Johnathan
Format: Book
Published: Hoboken, NJ.: John Wiley & Sons, Inc, c2004
Subjects:
ΒιβλιοθήκηΤαξιθετικός αριθμόςΑριθμός ΑντιτύπωνΠληροφορίεςΚατάσταση
Εθνικό Μετσόβιο Πολυτεχνείο658.155 MUN1ΠροβολήOPAC
ΤΕΙ Ανατολικής Μακεδονίας & Θράκης1ΠροβολήOPAC