Transport phenomena/

Main Author: Beek, W. J.
Corporate Author: Wiley
Other Authors: Muttzall, K. M. K., Heuven, J. W. van, Muttzall, Klaus Max Karl, Van Heuven, Jan Willem
Format: Book
Language:English
Published: Chichester ; New York: Wiley, c1999
Edition:2nd ed.
Subjects:
ΒιβλιοθήκηΤαξιθετικός αριθμόςΑριθμός ΑντιτύπωνΠληροφορίεςΚατάσταση
Εθνικό Μετσόβιο Πολυτεχνείο530.138 BEE1ΠροβολήOPAC
Δημοκρίτειο Πανεπιστήμιο ΘράκηςQC 175 .21ΠροβολήOPAC