Applied logistic regression

Main Author: Hosmer, David W.
Corporate Author: ebrary, Inc.
Other Authors: Lemeshow, Stanley.
Format: Book
Language:English
Published: Hoboken, N.J. : Wiley, 2013.
Edition:3rd ed. /
Series:Wiley series in probability and statistics
Subjects:
Online Access:http://site.ebrary.com/lib/ucy/Doc?id=10677827

Internet

http://site.ebrary.com/lib/ucy/Doc?id=10677827
ΒιβλιοθήκηΤαξιθετικός αριθμόςΑριθμός ΑντιτύπωνΠληροφορίεςΚατάσταση
Πανεπιστήμιο Κύπρου - Ανοιχτό Πανεπιστήμιο Κύπρου-1ΠροβολήOPAC