Basic metrology for ISO 9000 certification /

Main Author: De Silva, G. M. S.
Format: Book
Language:English
Published: Oxford : Butterworth-Heinemann, c2002.
Subjects:
ΒιβλιοθήκηΤαξιθετικός αριθμόςΑριθμός ΑντιτύπωνΠληροφορίεςΚατάσταση
Τεχνολογικό Πανεπιστήμιο Κύπρου-1ΠροβολήOPAC